今日，半導體行業(yè)年度盛會——SEMICON China 2026在上海新國際博覽中心盛大啟幕。作為光學顯微鏡領(lǐng)域的實力企業(yè)，麥克奧迪光學始終深耕半導體檢測場景，持續(xù)探索行業(yè)新需求，推出了一系列定制化顯微解決方案，為產(chǎn)業(yè)發(fā)展注入強勁動力。2026年SEMICON China現(xiàn)場，麥克奧迪光學攜多款重磅產(chǎn)品及解決方案亮相E6758，邀您親臨展會，一探芯“視界。

3DVision-LC線光譜共焦系統(tǒng)

高速掃描，精準在線

本次展會著重展示了麥克奧迪全新3DVision-LC線光譜共焦系統(tǒng)。該系統(tǒng)基于光譜共焦原理，專為高透、高反材料設(shè)計，支持高精度、高速掃描，適配半導體制造自動化在線檢測場景，可應(yīng)用于 3C 電子、半導體、新能源、精密加工等領(lǐng)域，以高精度、高穩(wěn)定性和優(yōu)異的環(huán)境適應(yīng)性，展現(xiàn)出較高的工業(yè)應(yīng)用價值。

3DVision-LC線光譜共焦系統(tǒng)

Easy Zoom 6系列超景深數(shù)碼顯微鏡

智能高效兩者兼得

近年來，芯片制造工藝飛速發(fā)展，對檢測的精度與效率提出了更高要求。Easy Zoom 6系列超景深數(shù)碼顯微鏡深度融合光學技術(shù)與數(shù)碼技術(shù)，是一套集明場、暗場、片射、組合照明、偏光、DIC等觀察方式的高度自動化顯微系統(tǒng)。其單鏡體可實現(xiàn)30X至10000X無縫變焦，支持一鍵式超景深合成，能自動完成圖像采集、融合、拼接及3D建模，讓檢測過程更智能、高效、精準，尤其適用于半導體器件、晶圓表面的高精度三維觀察與檢測。

Easy Zoom 6系列超景深數(shù)碼顯微鏡

PA300 系列工業(yè)檢測顯微鏡

大尺寸樣品檢測無憂

一直以來，顯微鏡都是半導體工業(yè)檢測的重要工具，也是提升檢測效率的關(guān)鍵切入點。 PA300系列工業(yè)檢測顯微鏡采用高解析、高襯度成像物鏡，支持明場、暗場、熒光、偏光與微分干涉等多種觀察方式，可靈活適配多樣化檢測需求。其人體工程學與智能化設(shè)計，有助于緩解長時間工作帶來的疲勞感。同時，一體化、低重心、高剛性機身設(shè)計顯著增強了抗振能力，確保高倍率下圖像穩(wěn)定清晰，使其成為半導體晶圓、液晶面板與PCB等行業(yè)大尺寸樣品表面缺陷檢測的理想工具，助力工業(yè)檢測提質(zhì)增效。

PA300 系列工業(yè)檢測顯微鏡

EasyNanoScan 系列桌面式掃描電鏡

5 nm精度，芯界盡覽

EasyNanoScan系列桌面式掃描電鏡以緊湊的設(shè)計、穩(wěn)定的成像性能和便捷的操作，為半導體材料與封裝結(jié)構(gòu)觀察提供便捷的微觀分析工具。設(shè)備具備5 nm(SE)/10nm(BSE)分辨率，可清晰呈現(xiàn)bump結(jié)構(gòu)、封裝界面及材料表面形貌等微觀細節(jié)，并支持EDS能譜擴展，實現(xiàn)形貌與元素信息的綜合分析。結(jié)合自動馬達樣品臺、導航圖像與倉內(nèi)相機，用戶可快速定位觀察區(qū)域，提高樣品查找與檢測效率。

EasyNanoScan 系列桌面式掃描電鏡

相約上海，不見不散

SEMICON開展首日，麥克奧迪光學E6758展位人氣高漲，吸引了諸多現(xiàn)場參展觀眾駐足。誠邀各位半導體行業(yè)伙伴蒞臨交流，近距離感受國產(chǎn)光學儀器的硬核實力，共探合作新機！現(xiàn)場更有驚喜抽獎等您參與，期待與您相見。